Die Gonion-Winkel-Korrelation zwischen Orthopantomogramm und Fernröntgenseitenbild - eine zuverlässige Prognose der Unterkiefer-Wachstumsrichtung?

Bei der Beurteilung der Gesichtsstruktur gibt der Kieferwinkel wertvolle Hinweise in Hinblick auf die vertikalen Strukturmerkmale des Viszerokraniums. Auch bei der Prognose des Gesichtswachstums wird diesem Winkel eine große Bedeutung zugemessen. Da wir bei jedem kieferorthopädischen Patienten über eine Panoromaschichtaufnahme verfügen, stellt sich die Frage, ob hier eine Bestimmung des Gonion-Winkels mit ausreichender Genauigkeit möglich ist. Auf ein Fernröntgenseitenbild könnte man dann bei manchen Patienten zunächst verzichten. Anhand von Vergleichsmessungen zwischen Panoramaschicht- und Fernröntgenseitenaufnahmen versuchen die Autoren, auf diese Frage eine Antwort zu geben. Palabras clave: Orthopantomogramm, Fernröntgenseitenbild, Gonion-Winkel, Schädelwachstum