Die axiale Aufbißaufnahme im Oberkiefer - eine weitere Möglichkeit zur Lagebestimmung verlagerter Zähne

Die axiale Aufbißaufnahme stellt eine bisher wenig beachtete Möglichkeit zur Lagebestimmung retinierter und verlagerter Zähne im Oberkiefer dar. Das wichtigste Indikationsgebiet besteht in der Lokalisationsbestimmung retinierter und verlagerter Eckzähne. Maßgeblich für den Verlauf des Zentralstrahles ist die Zahnachse der Schneidezähne. Im Gegensatz zur (halbaxialen) Aufbißaufnahme ist eine sichere Diagnostik möglich. Verglichen mit der parallaktischen Verschiebung ist lediglich eine Röntgenaufnahme erforderlich; die Strahlenbelastung ist deutlich geringer. Palabras clave: Lagebestimmung, Zahnverlagerung, axiale Aufbißaufnahme