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  • KVM Verlag
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1. März 1987
Seiten: 23-27, Sprache: EnglischHenry, Patrick J.

Comparative Surface Analysis of Two Osseointegrated Implant Systems

Scanning electron microscopy and spectral surface analysis were used to compare and contrast the microstructure of two osseointegrated implant systems. Results suggested that one system was superior to the other in terms of surface quality, definition, and reproducibility.
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