Statistische Verweildaueranalysen in der Implantologie

Wichtigstes Erfolgskriterium in der Implantologie ist die Verweil- oder Überlebensdauer eines Implantates. Bei ihrer Schätzung sind Methoden aus der Überlebenszeitanalyse (z. B. Kaplan-Meier- Kurven) anzuwenden. Dabei werden zu jedem Zeitpunkt eines Implantatverlustes nur diejenigen Implantate berücksichtigt, die zur gleichen Zeit noch unter Risiko stehen. Beobachtungseinheit sollte möglichst der Patient sein. Es erscheint sinnvoll, den Zeitraum der Einheilung und die Phase noch der prothetischen Versorgung getrennt zu analysieren (prä-/postprothetische Phase). Risikofaktoren (Implantationsort, Typ der prothetischen Versorgung) werden mit Hilfe von Regressionsmodellen (Cox-Regression) bzw. durch Stratifizierung abgeschätzt. Mehrzustandsmodelle erlauben es, den Erfolg von Nachimplantationen einzuschätzen. Viele Statistikprozeduren sind in Softwarepaketen verfügbar. Parole chiave: Implantatstatistik, VerweildaueranaIyse, Implantatverlust, statistische Auswertung